NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62496-2-2 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60068-1 | 1988 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 1: Allgemeines und Richtlinien Mehr |
| IEC 60249-1 | 1982 | Basismaterialien für gedruckte Schaltungen; Teil 1: Prüfverfahren Mehr |
| IEC 60793-1-45 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-45: Messmethoden und Prüfverfahren; Modenfelddurchmesser Mehr |
| IEC 61189-2 | 2006-05 | Prüfverfahren für Elektromaterialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 2: Prüfverfahren für Materialien für Verbindungsstrukturen Mehr |
| IEC 62496-1 | 2008-12 | Optische Leiterplatten - Teil 1: Fachgrundspezifikation Mehr |
| IEC 62496-2-2 | 2011-01 | Optische Leiterplatten - Teil 2-2: Messverfahren - Maße optischer Leiterplatten Mehr |
| IEC 62496-3 | 2011-01 | Optische Leiterplatten - Teil 3: Betriebsverhalten - Allgemeines und Leitfaden Mehr |
| IEC 62496-3-1 | 2009-08 | Optische Leiterplatten - Teil 3-1: Betriebsverhalten - Flexible optische Leiterplatten mit nicht mit Steckverbindern versehenen Lichtwellenleitern Mehr |
| IEC 62496-4 | 2011-01 | Optische Leiterplatten - Teil 4: Schnittstellennormen - Allgemeines und Leitfaden Mehr |
| ISO 10360-2 | 2009-12 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Annahmeprüfung und Bestätigungsprüfung für Koordinatenmessgeräte (KMG) - Teil 2: KMG angewendet für Längenmessungen Mehr |
