NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 61280-1-4 ; VDE 0885-801-4:2010-09 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 61745 | 1998-08 | Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Geometrie-Prüfanordnungen Mehr |
| IEC 60793-2-10 | 2007-06 | Lichtwellenleiter - Teil 2-10: Produktspezifikationen - Rahmenspezifikation für Mehrmodenfasern der Kategorie A1 Mehr |
| IEC 60825-1 | 2007-03 | Sicherheit von Laser-Einrichtungen - Teil 1: Klassifizierung von Anlagen und Anforderungen Mehr |
| IEC 60793-1-20 | 2001-09 | Lichtwellenleiter - Teil 1-20: Messmethoden und Prüfverfahren; Fasergeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-41 | 2003-04 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren; Bandbreite Mehr |