NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 62341-1-1 [AKTUELL] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60410 | 1973 | Probenahmepläne und -verfahren für die Fehlerkontrolle Mehr |
| IEC 60747-1 | 2006-02 | Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 1: Allgemeines Mehr |
| IEC 62341-5 | 2009-11 | Anzeigen mit organischen lichtemittierenden Dioden (OLED) - Teil 5: Verfahren zur Umweltprüfung Mehr |
| IEC 62341-1-2 | 2007-11 | Anzeigen mit organischen Leuchtdioden - Teil 1-2: Begriffe und Buchstabensymbole Mehr |
| IEC 62341-6-1 | 2009-05 | Anzeigen mit organischen lichtemittierenden Dioden (OLEDs) - Teil 6-1: Messmethoden der optischen und opto-elektronischen Parameter Mehr |
| ISO 2859-3 | 2005-05 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 3: Skip-Lot-Verfahren Mehr |
| ISO 2859-5 | 2005-06 | Annahmestichprobenprüfung anhand der Anzahl fehlerhafter Einheiten oder Fehler (Attributprüfung) - Teil 5: System sequenzieller Stichprobenpläne für losweise Prüfung, geordnet nach der annehmbaren Qualitätsgrenzlage (AQL) (ISO 2859-5:2005; Text Deutsch, Englisch) Mehr |
| QC 001002-1 | 1998-06 | IEC quality assessment system for electronic components (IECQ) - Rules of procedure - Part 1: Administration Mehr |
| QC 001002-2 | 1998-06 | IEC quality assessment system for electronic components (IECQ) - Rules of procedure - Part 2: Documentation Mehr |
| QC 001002-2 AMD 1 | 2004-10 | IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ-CECC) - Rules of procedure - Part 2: Documentation, concerning a new clause 5, Regulations for component specifications and assessment specifications (fast track) Mehr |
