NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

DIN EN 60603-7-1 ; VDE 0687-603-7-1:2010-05 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:

Dokumentnummer Ausgabe Titel
IEC 60603-7 2008-07 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Teil 7: Bauartspezifikation für ungeschirmte freie und feste Steckverbinder, 8polig Mehr 
EN 50289-1-14 2004-03 Kommunikationskabel - Spezifikationen für Prüfverfahren - Teil 1-14: Elektrische Prüfverfahren - Kopplungsdämpfung oder Schirmdämpfung für Verbindungstechnik Mehr 
IEC 60068-2-38 2009-01 Umgebungseinflüsse - Teil 2-38: Prüfverfahren - Prüfung Z/AD: Zusammengesetzte Prüfung, Temperatur/Feuchte, zyklisch Mehr 
IEC 60512-1 2001-01 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines Mehr 
IEC 60512-10-4 2003-08 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 10-4: Aufprallprüfungen (freie Bauelemente), Prüfungen mit statischer Last (feste Bauelemente), Dauerprüfungen und Überlastprüfungen; Prüfung 10d: Elektrische Überlast (Steckverbinder) Mehr 
IEC 60512-1-1 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-1: Allgemeine Untersuchungen; Prüfung 1a: Sichtprüfungen Mehr 
IEC 60512-1-100 2006-03 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-100: Allgemeines - Zutreffende Publikationen Mehr 
IEC 60512-11-1 1995-11 Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 11: Klimatische Prüfungen - Hauptabschnitt 1: Prüfung 11a: Klimafolge Mehr 
IEC 60512-11-10 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-10: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11j: Kälte Mehr 
IEC 60512-11-11 2002-02 Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-11: Klimatische Prüfungen; Prüfung 11k: Unterdruck Mehr