NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN EN 60793-2-20 ; VDE 0888-322:2010-01 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60793-2 | 2003-10 | Lichtwellenleiter - Teil 2: Produktspezifikationen; Allgemeines Mehr |
| IEC 60793-1-20 | 2001-09 | Lichtwellenleiter - Teil 1-20: Messmethoden und Prüfverfahren; Fasergeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-21 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-21: Messmethoden und Prüfverfahren; Beschichtungsgeometrie Mehr |
| IEC 60793-1-22 | 2001-08 | Lichtwellenleiter - Teil 1-22: Messmethoden und Prüfverfahren; Längenmessung Mehr |
| IEC 60793-1-30 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-30: Messmethoden und Prüfverfahren; Nachweis von Fehlern in Fasern Mehr |
| IEC 60793-1-31 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-31: Messmethoden und Prüfverfahren; Zugfestigkeit Mehr |
| IEC 60793-1-40 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-40: Messmethoden und Prüfverfahren; Dämpfung Mehr |
| IEC 60793-1-41 | 2003-04 | Lichtwellenleiter - Teil 1-41: Messmethoden und Prüfverfahren; Bandbreite Mehr |
| IEC 60793-1-43 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-43: Messmethoden und Prüfverfahren; Numerische Appertur Mehr |
| IEC 60793-1-46 | 2001-07 | Lichtwellenleiter - Teil 1-46: Messmethoden und Prüfverfahren; Überwachung der optischen Übertragungsänderungen Mehr |
