NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
DIN 45941-1 ; CECC 63000:1985-03 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| IEC 60068-2-6 | 1982 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2: Prüfungen; Prüfung Fc und Anleitung: Schwingungen (sinusförmig) Mehr |
| IEC 60068-2-7 | 1983 | Grundlegende Umgebungsprüfverfahren; Teil 2; Prüfungen; Prüfung Ga und Anleitung: Konstante Beschleunigung Mehr |
| IEC 60134 | 1961 | Grenzwertangaben für Elektronenröhren und entsprechende Halbleiterbauelemente Mehr |
| IEC 60147-0B | 1969 | Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 0: Allgemeines und Terminologie; 2. Ergänzung Mehr |
| IEC 60147-0D | 1974 | Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 0: Allgemeines und Terminologie; 4. Ergänzung Mehr |
| IEC 60147-1 | 1972 | Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 1: Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte Mehr |
| IEC 60148 | 1969 | Buchstabensymbole für Halbleiterbauelemente und integrierte Mikroschaltungen Mehr |
| IEC 60148A | 1974 | Buchstabensymbole für Halbleiterbauelemente und integrierte Mikroschaltungen; 1. Ergänzung Mehr |
| IEC 60191-1 | 1966 | Standardisierung der mechanischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen; Teil 1: Ausarbeitung von Zeichnungen für Halbleiterbauelemente Mehr |
| IEC 60191-2 | 1966 | Standardisierung der mechanischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen; Teil 2: Abmessungen Mehr |
