NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Projekt
Vorschlag für ein Beiblatt zur Norm IEC 62127-1:2022 durch JP NC
Kurzreferat
Da das Messverfahren ausreichend Zeit erfordert, um die Messsysteme entsprechend anzupassen, heißt es im letzten Absatz von IEC 62127-1:2022, 5.1.7.1 „Es ist nicht erforderlich, gemäß der 2. Ausgabe der IEC 62127-1:2022 erneut zu messen, wenn die Messung gemäß der vorherigen Ausgabe der IEC 62127-1 durchgeführt wurde.“ Es scheint jedoch Bedenken zu geben, dass die Zertifizierungsstellen dies strenger auslegen. Um widersprüchliche Auslegungen zu vermeiden, wurde ein Beiblatt zur IEC 62127-1:2022 erstellt.
Beginn
2026-06-16
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 62127-1 Beiblatt 1
Projektnummer
02233938
