NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Projekt

Single fault conditions of magnetic resonance equipment and other considerations for magnetic resonance conditional implant assessments

Beginn

2026-08-03

Geplante Dokumentnummer

IEC/AWI TS 63757

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/GUK 804.9 - Aktiv betriebene Implantate  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 150/SC 6/JWG 2 - Gemeinsame Arbeitsgruppe ISO/TC 150/SC 6 und IEC/SC62B: Effekte der bildgebenden Kernspintomographie auf aktive Medizinprodukte  

Ihr Kontakt

Janina Laurila-Dürsch

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-378
Fax: +49 69 6308-9378

Zum Kontaktformular