• Illustration einer Frau, die einen Schlüssel in ein digitales Schloss in einen Laptop steckt

    Digitale Souveränität braucht Normung Jetzt Spielregeln von morgen mitgestalten

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  • Haie und viele Fischer im Meer

    Wie erlangen wir digitale Souveränität? Antworten im neuen DIN A4-Magazin

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Veröffentlichungen von NA 062

ISO 17075-1 ; IULTCS/IUC 18-1:2017-02 2017-02 Norm Leder - Bestimmung des Chrom(VI)-Gehalts in Leder - Teil 1: Kolorimetrisches Verfahren Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17075-2 ; IULTCS/IUC 18-2:2017-02 2017-02 Norm Leder - Chemische Bestimmung des Chrom(VI)-Gehalts in Leder - Teil 2: Chromatographie Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17076-1 ; IULTCS/IUP 48-1:2020-01 2020-01 Norm Leder - Bestimmung des Abriebwiderstandes - Teil 1: Taber-Verfahren Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17076-2 ; IULTCS/IUP 48-2:2011-06 2011-06 Norm Leder - Bestimmung des Abriebwiderstandes - Teil 2: Martindale-Kugelplatte-Verfahren Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17081 2014-06 Norm Elektrochemisches Verfahren zur Messung der Wasserstoffpermeation und zur Bestimmung von Wasserstoffaufnahme und -transport in Metallen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17092 2005-11 Norm Hochleistungskeramik - Bestimmung der Korrosionsbeständigkeit von monolithischen Keramiken in sauren und alkalischen Lösungen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17093 2015-06 Norm Korrosion von Metallen und Legierungen - Leitlinien für Korrosionstest durch elektrochemische Rauschmessungen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17094 2014-05 Norm Hochleistungskeramik - Bestimmung der antibakteriellen Aktivität von halbleitenden photokatalytischen Werkstoffen unter Beleuchtungsbedingungen von Innenräumen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17095 2013-08 Norm Hochleistungskeramik - Prüfverfahren zur Bestimmung der Grenzflächenfestigkeit zwischen Faser und Matrix von keramischen Werkstoffen bei erhöhten Temperaturen Mehr  Kaufen bei DIN Media
ISO 17109 2022-03 Norm Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films Mehr  Kaufen bei DIN Media

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