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Standardprüfverfahren für Halbleiter-Röntgenenergiespektrometer

Halbleiter-Stromrichter - Teil 2: Selbstgeführte Halbleiter-Stromrichter einschließlich Gleichstrom-Direktumrichter

Halbleiterschutzgeräte für Hausinstallationen und ähnliche Anwendungen - Teil 1: Fehlerstrom-Schutzschalter mit integriertem Überstromschutz für Hausinstallationen und ähnliche Anwendungen IEC/SC23E

Projekt

prEN 17216

Bauprodukte - Bewertung der Freisetzung von gefährlichen Stoffen - Messung der spezifischen Aktivität von Radium-226, Thorium-232 und Kalium-40 mittels Halbleiter-Gammaspektrometrie

Bauprodukte - Bewertung der Freisetzung von gefährlichen Stoffen - Messung der spezifischen Aktivität von Radium-226, Thorium-232 und Kalium-40 mittels Halbleiter-Gammaspektrometrie; Deutsche und Englische Fassung prEN 17216:2023

Halbleiter-Chip-Erzeugnisse - Teil 2: Datenaustausch-Formate

Niederspannungsschaltgeräte - Teil 10: Halbleiter-Leistungsschalter (IEC 121A/635/CDV:2025); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60947-10:2025

Halbleiterbauelemente - Bias-Temperaturstabilitätsprüfung für Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET)

Niederspannungssicherungen - Teil 4: Zusätzliche Anforderungen an Sicherungseinsätze zum Schutz von Halbleiter-Bauelementen (IEC 32B/776/RR:2025)

Straßenfahrzeuge - Funktionale Sicherheit - Teil 11: Leitfaden für die Anwendung für Halbleiter