Ermittlung der Exposition von Personen gegenüber elektromagnetischen Feldern im Frequenzbereich 0 GHz bis 300 GHz durch Geräte mit kurzer Reichweite für verschiedene Anwendungen - Teil 1: Felder, die durch Geräte erzeugt werden, die zur elektronischen Artikelüberwachung, Hochfrequenz-Identifizierung und für ähnliche Anwendungen verwendet werden (IEC 106/714/RR:2025)

Halbleiterbauelemente - Bias-Temperaturstabilitätsprüfung für Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET)

Digital adressierbare Schnittstelle für die Beleuchtung - Teil 225: Besondere Anforderungen für Betriebsgeräte - Adaptive Fluchtwegbeleuchtung (Gerätetyp 24)(IEC 34/1199/NP:2024)

Digital adressierbare Schnittstelle für die Beleuchtung - Teil 351: Besondere Anforderungen - Eingabegeräte - Leuchten montierte Eingabegeräte

Strahlenschutz-Messgeräte - Dosimetriesysteme mit integrierenden passiven Detektoren zur Personen-, Arbeitsplatz- und Umgebungsüberwachung auf Photonen- und Betastrahlung; Deutsche und Englische Fassung EN IEC 62387:2022/prAB:2025

Obsoleszenzmanagement - Teil 1: Richtlinien, Plan und Prozess (IEC 56/2122/CD:2025)

Obsoleszenzmanagement - Teil 2: Vorhersage der Obsoleszenzkosten (56/2056/CD:2024)

Obsoleszenzmanagement - Teil 3: Austausch von Informationen über die Änderung und Einstellung von Produkten (56/2047/CD:2024)

Fehlerstrom-/Drehstrom-Schutzschalter - Typ F und Typ B mit und ohne eingebautem Überstromschutz für Hausinstallationen und für ähnliche Anwendungen

EMV-IC-Modellierung - Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit - Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI)