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Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-6: Nahfeldmusteranalyse von Multimode-Lichtwellenleitern mit rechteckigem(n) Kern(en) unter Verwendung der Methode des begrenzten Lichtstroms

Optische Leiterplatten - Teil 4-3: Schnittstellennormen - Konfektionierter OCB Wellenleiter mit 250 μm Raster MPO 16 Steckverbinder steckbaren einreihigem 32-Kanal PMT Steckverbinder (IEC 86/576/CD:2020); Text Englisch

Verfahren für beschleunigte Produktprüfungen (56/1889/CD:2020)

Leitlinien zu den menschlichen Aspekten der Zuverlässigkeit (IEC 56/2030/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62508:2024

Leistung und Funktion von Photovoltaik-Batterieladereglern

Kalibrierung von abstimmbaren Laserquellen (IEC 86/600/CD:2022); Text Deutsch und Englisch

OPC Unified Architecture - Teil 1: Übersicht und Konzepte (IEC 65E/1039/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 62541-1:2024

OPC Unified Architecture - Teil 2: Modell für die IT-Sicherheit

OPC Unified Architecture - Teil 3: Adressraummodell

OPC Unified Architecture - Teil 4: Dienste