Projekt
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Direct Contact Charged Device Model (DC-CDM)
Kurzreferat
In diesem Vorhaben ist das Prüfverfahren gegen elektrostatische Entladungen nach dem Modell der aufgeladenen Bauelemente festgelegt, um die Empfindlichkeit Integrierter Schaltungen gegenüber solchen elektrostatischen Entladungen zu bewerten, denen IC vor dem Einbauen in elektronische Produkte ausge-setzt sind.
Beginn
2012-03-02
Geplante Dokumentnummer
IEC 47/2155/CDV
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
