Projekt
Halbleiterbauelemente - Chip-Scale-Prüfung für autonome Fahrzeuge - Teil 1: Kombiniertes LD-PD für LiDAR
Kurzreferat
Dieser Teil der Norm IEC 63551-1 legt die Standardprüfbedingungen und Prüfverfahren fest, die zur Bewertung und Bestimmung der Detektionsleistung von Halbleiterbauelementen in LiDAR-Systemen herangezogen werden können, wobei der Schwerpunkt auf der Leistung von verpackten LD-PDs auf Chip-Ebene liegt.
Beginn
2026-08-13
Geplante Dokumentnummer
DIN EN IEC 63551-1
Projektnummer
02234082
