Ellipsometry - Part 4: Semi-transparent single layer model

2026-08-19

ISO/AWI 23131-4

NA 062-02-101 AA - Mess- und Prüfverfahren für Schichten und Schichtsysteme

ISO/TC 107/JWG 4 - Gemeinsame Arbeitsgruppe ISO/TC 107 - ISO/TC 35/SC 9 WG: Methoden der Schichtdickenmessung für Überzüge, Lacke und Anstrichstoffe

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Clemens Judersleben

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