Kurzreferat

Die unvoreingenommene, hoch beschleunigte Belastungsprüfung (HAST) wird durchgeführt, um die Zuverlässigkeit von nicht hermetisch verpackten Halbleiterbauelementen in feuchter Umgebung zu bewerten. Es handelt sich um einen hoch beschleunigten Test, bei dem Temperatur und Feuchtigkeit unter nicht kondensierenden Bedingungen das Eindringen von Feuchtigkeit durch das äußere Schutzmaterial (Verkapselung oder Dichtung) oder entlang der Grenzfläche zwischen dem äußeren Schutzmaterial und den metallischen Leitern, die es durchdringen, beschleunigt. Bei dieser Prüfung wird keine Vorspannung angelegt, um sicherzustellen, dass die durch Vorspannung möglicherweise überschatteten Ausfallmechanismen aufgedeckt werden können (z. B. galvanische Korrosion). Diese Prüfung dient zur Ermittlung von Fehlermechanismen im Inneren des Gehäuses und ist destruktiv.

Beginn

2024-08-01

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 60749-24

Projektnummer

02232470

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ersatzvermerk

Vorgesehen als Ersatz für DIN EN 60749-24:2004-09

Norm-Entwurf

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 47/2863/CDV:2024); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 60749-24:2024
2025-04
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Vorgänger-Dokument(e)

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-24:2004); Deutsche Fassung EN 60749-24:2004
2004-09

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