• Digitale Darstellung eines Hauses

    Digitalisierung im Bauwesen Dialog-Veranstaltung am 17. und 18. November 2026

    Jetzt anmelden
  • Vier Ruderer auf türkisblauem Wasser

    Mittelstandskonferenz 2026 Mitspielen. Mitgestalten. Wettbewerbsfähig bleiben.

    Jetzt anmelden
  • Illustration einer Person mit Clipboard und Stift in der Hand, dahinter Wappen mit der Aufschrift

    Cybersicherheit wird zur Pflicht Jetzt kommt es auf die Umsetzung an

    Mehr erfahren
Projekt

Kriterien für die Erkennung von Defekten in polierten Indiumphosphid-Wafern - Teil 1: Klassifizierung von Mängeln

Kurzreferat

Dieser Teil der Norm dient der Klassifizierung von Fehlern, die auf handelsüblichen Indium-Phosohid (InP)-Wafern. Er enthält Begriffe, Definitionen und Beobachtungsbilder von Defekten. Die Defektterminologie wird überprüft und bei Bedarf angepasst

Beginn

2024-07-09

Geplante Dokumentnummer

DIN EN IEC 63581-1

Projektnummer

02232424

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Ihr Kontakt

Denis Kasalo

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-149

Zum Kontaktformular