Projekt
Future IEC 60747-14-8: Semiconductor devices - Part 14-8: Semiconductor sensors - Capacitive degradation sensor of liquid
Beginn
2011-09-30
Geplante Dokumentnummer
IEC 47E/426/NP
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/UK 631.1 - Einzel-Halbleiterbauelemente
