Projekt

Future IEC 60747-14-7: Semiconductor devices - Part 14-7: Semiconductor sensors - Flow meter

Beginn

2011-09-30

Geplante Dokumentnummer

IEC 47E/425/NP

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/UK 631.1 - Einzel-Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/SC 47E - Einzel-Halbleiterbauelemente  

Ihr Kontakt

Dr.

Bernd Komanschek

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-457

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