Norm [AKTUELL]

DIN EN 60749-1
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); Deutsche Fassung EN 60749-1:2003

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002 + Corr. 1:2003); German version EN 60749-1:2003

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60749:2002-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: - die für alle Prüfverfahren zutreffenden allgemeinen Festlegungen und Messbedingungen wurden entsprechend der Bedingungen in den überarbeiteten oder neu erarbeiteten Teilen der Normenreihe DIN EN 60749 vollständig überarbeitet und in der hier vorliegenden Norm zusammengefasst.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/TC 47 - Halbleiterbauelemente  

Ausgabe 2003-12
Originalsprache Deutsch
Preis ab 56,60 €
Inhaltsverzeichnis

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