ISO 17297
Mikrobereichsanalyse – TEM-Probenvorbereitung mittels fokussierter Ionenstrahlen - Fachwörterverzeichnis

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Focused ion beam application for TEM specimen preparation - Vocabulary

NA 062-09-104 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

ISO/TC 202/SC 1 - Terminologie

Ausgabe 2025-05

Originalsprache Englisch

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