Norm [AKTUELL]

DIN 51418-1
Röntgenspektralanalyse - Röntgenemissions- und Röntgenfluoreszenz-Analyse (RFA) - Teil 1: Allgemeine Begriffe; Text Deutsch und Englisch

Titel (englisch)

X-ray spectrometry - X-ray emission and X-ray fluorescence analysis (XRF) - Part 1: General vocabulary; Text in German and English

Einführungsbeitrag

Dieses Dokument legt allgemeine Begriffe und Grundlagen für die Röntgenfluoreszenzanalyse von festen und flüssigen Materialien fest. In diesem Dokument sind Grundlagen und Begriffe zur Planung von Analysen, zur Probenvorbereitung, zur Kalibrierung/Auswertung und zur Betrachtung von Messunsicherheiten nicht enthalten. Diese werden gesondert in DIN 51418-2 behandelt. Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist eine analytische Methode zur Identifizierung der in einer Substanz enthaltenen chemischen Elemente und zur Bestimmung von deren Menge beziehungsweise zur Bestimmung der Dicke von Schichten. Zu diesem Zweck wird die Substanz zur Aussendung elementspezifischer Strahlung angeregt, deren spektrale Zusammensetzung diese Informationen enthält. Ziel dieses Dokuments ist es, die Verwendung von Fachbegriffen für die Röntgenfluoreszenzanalyse zu vereinheitlichen und auch, so weit wie möglich, deren Übereinstimmung mit den verschiedenen Gebieten der optischen Atomspektralanalyse: Optische Emissionsspektralanalyse (OES), Atomabsorptionsspektralanalyse (AAS) und Atomfluoreszenzspektralanalyse (AFS) zu erreichen. Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-08-15 AA "Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie" im DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP) erarbeitet.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN 51418-1:2008-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) das Dokument liegt nun in zweisprachiger Ausführung vor - Deutsch und Englisch; b) Aktualisierung des Dokumententitels; c) komplette Überarbeitung des Dokuments und Ergänzung der Begriffe für eine Anpassung an den aktuellen Stand der Technik; d) der ehemalige Anhang A "Erläuterungen" wurde entfernt; e) das Dokument wurde redaktionell überarbeitet.

Dokument: wird in anderen Dokumenten zitiert

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-15 AA - Grundlagen der analytischen Atomspektroskopie  

Ausgabe 2025-05
Originalsprache Deutsch , Englisch
Preis ab 168,30 €
Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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