DIN EN 60068-2-10/A1
; VDE 0468-2-10/A1:2019-04
Umgebungseinflüsse - Teil 2-10: Prüfverfahren - Prüfung J und Leitfaden: Schimmelwachstum (IEC 60068-2-10:2005/A1:2018); Deutsche Fassung EN 60068-2-10:2005/A1:2018
Environmental testing - Part 2-10: Tests - Test J and guidance: Mould growth (IEC 60068-2-10:2005/A1:2018); German version EN 60068-2-10:2005/A1:2018
Einführungsbeitrag
In feuchten Umgebungen können Schimmel und Pilzbefall Eigenschaften und Funktionstüchtigkeit elektrotechnischer Produkte beeinträchtigen. Teil -2-10 der IEC 60068 beschreibt Prüfverfahren, mithilfe derer das Pilz-Wachstum ermittelt und Auswirkungen bewertet werden können. Die Anwendung dieser Prüfungen betrifft Applikationen, welche während Gebrauch, Transport oder Lagerung etwa tageweise feuchtem Klima ausgesetzt sind. Diese Abänderung der aktuellen Ausgabe modifiziert die Beschreibungen zur grundlegenden Herangehensweise bei Prüfungen nach Teil -2-10. Zuständig ist das DKE/K 131 "Umgebungsbedingungen, Klassifizierung und Prüfungen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 131 - Umgebungsbedingungen, Klassifizierung und Prüfungen
