Norm [AKTUELL]

OVE EN 60749-5
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 60749-5:2017) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2017) (german version)

Ausgabe 2018-02-01
Originalsprache Deutsch
Preis ab 86,54 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis