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Norm [AKTUELL]

EIA JESD 202
Method for Characterizing the Electromigration Failure Time Distribution of Interconnects Under Constant-Current and Temperature Stress

Titel (englisch)

Method for Characterizing the Electromigration Failure Time Distribution of Interconnects Under Constant-Current and Temperature Stress

Ausgabe 2006-03
Originalsprache Englisch
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