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Norm [AKTUELL]

IEC 60147-2
Wesentliche Grenzwerte und Kennwerte von Halbleiterbauelementen und allgemeine Grundsätze für Meßverfahren; Teil 2: Allgemeine Grundlagen für Meßverfahren

Titel (englisch)

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods

Ausgabe 1963
Originalsprache Englisch , Französisch
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