ISO/TS 24597
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren zur Ermittlung der Bildschärfe

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness

NA 062-09-104 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

ISO/TC 202/SC 4 - Rasterelektronenmikroskopie

Ausgabe 2011-06

Originalsprache Englisch

Preis ab 259,90 €

Kaufen bei DIN Media

Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058