ISO/TS 24597
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Verfahren zur Ermittlung der Bildschärfe

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

ISO/TC 202/SC 4 - Rasterelektronenmikroskopie

Ausgabe 2011-06

Originalsprache Englisch

Preis ab 259,90 €

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Inhaltsverzeichnis

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