Norm [AKTUELL]

OEVE/OENORM EN 62415
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration (IEC 62415:2010) (deutsche Fassung)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010) (german version)

Ausgabe 2011-01-01
Originalsprache Deutsch
Preis ab 104,29 €
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