Norm
[AKTUELL]
DIN EN 62374
DIN EN 62374
Halbleiterbauelemente - Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
