NA 062
DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)
DIN EN ISO 3882 [ZURÜCKGEZOGEN] zitiert folgende Dokumente:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| DIN EN ISO 2064 | 2000-06 | Metallische und andere anorganische Schichten - Definitionen und Festlegungen, die die Messung der Schichtdicke betreffen (ISO 2064:1996); Deutsche Fassung EN ISO 2064:2000 Mehr |
| DIN EN ISO 3497 | 2001-12 | Metallische Schichten - Schichtdickenmessung - Röntgenfluoreszenz-Verfahren (ISO 3497:2000); Deutsche Fassung EN ISO 3497:2000 Mehr |
| DIN EN ISO 3543 | 2001-12 | Metallische und nichtmetallische Schichten - Dickenmessung - Betarückstreu-Verfahren (ISO 3543:2000); Deutsche Fassung EN ISO 3543:2000 Mehr |
| DIN EN ISO 3868 | 1995-01 | Metallische und andere anorganische Schichten - Messung von Schichtdicken - Fizeau-Vielstrahl-Interferenz-Verfahren (ISO 3868:1976); Deutsche Fassung EN ISO 3868:1994 Mehr |
| ISO 2064 | 1996-10 | Metallische und andere anorganische Schichten - Definitionen und Festlegungen, die die Messung der Schichtdicke betreffen (ISO 2064:1996) Mehr |
| ISO 2177 | 2003-03 | Metallische Überzüge - Schichtdickenmessung - Coulometrisches Verfahren durch anodisches Ablösen Mehr |
| ISO 3497 | 2000-12 | Metallische Überzüge - Schichtdickenmessung - Röntgenspektrometrisches Verfahren Mehr |
| ISO 3543 | 2000-12 | Metallische und nichtmetallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Betarückstreu-Verfahren Mehr |
| ISO 3868 | 1976-11 | Metallische und andere anorganische Schichten - Messung von Schichtdicken - Fizeau-Vielstrahl-Interferenz-Verfahren (ISO 3868:1976) Mehr |
