2. Mitwirken
  3. Normenausschüsse
  4. NMP
NA 062

DIN-Normenausschuss Materialprüfung (NMP)

Über NMP Aktuelles Projekte Entwürfe Veröffentlichungen Ersatzlose Zurückziehungen Nationale Gremien Europäische Gremien Internationale Gremien
Norm [ZURÜCKGEZOGEN]

ISO 14594 Technical Corrigendum 1
Mikrobereichsanalyse - Elektronenstrahlmikroanalyse - Leitfaden für die Bestimmung der experimentellen Parameter für wellenlängendispersive Spektroskopie; Korrektur 1

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy; Technical Corrigendum 1

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-09-104 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 202/SC 2 - Elektronenstrahl-Mikroanalyse  

Ausgabe 2009-02
Originalsprache Englisch
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2058

Zum Kontaktformular