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Dokumentnummer	Beginn	Titel	Kontakt zu DIN
ISO/AWI TS 22933	2025-11-15	Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for the measurement of mass resolution in SIMS Mehr	Kontakt zu DIN
ISO/DIS 20411	2023-11-07	Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionenmassenspektrometrie - Korrekturverfahren für gesättigte Intensitäten in der Einzelionenzählung der dynamischen Sekundärionenmassenspektrometrie Mehr	Kontakt zu DIN

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