NA 152
DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG)
DIN EN ISO 25178-70 [AKTUELL] wird in folgenden Dokumenten zitiert:
| Dokumentnummer | Ausgabe | Titel |
|---|---|---|
| VDI/VDE 2655 Blatt 1.3 | 2020-02 | Optische Messtechnik an Mikrotopografien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung Mehr |
| DIN EN ISO 17450-3 | 2016-12 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Grundlagen - Teil 3: Tolerierte Geometrieelemente (ISO 17450-3:2016); Deutsche Fassung EN ISO 17450-3:2016 Mehr |
| DIN EN ISO 25178-73 | 2019-10 | Geometrische Produktspezifikation (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft - Teil 73: Begriffe für Oberflächenfehler an Maßverkörperungen (ISO 25178-73:2019); Deutsche Fassung EN ISO 25178-73:2019 Mehr |
| DIN ISO 14999-4 | 2016-04 | Optik und Photonik - Interferometrische Messung von optischen Elementen und Systemen - Teil 4: Interpretation und Beurteilung der Toleranzen nach ISO 10110 (ISO 14999-4:2015) Mehr |
| DIN 65123 | 2017-08 | Luft- und Raumfahrt - Verfahren zur Prüfung von additiv mit Pulverbettverfahren hergestellten metallischen Bauteilen Mehr |
| VDI 3414 Blatt 3 | 2019-02 | Beurteilung von Holz- und Holzwerkstoffoberflächen - Gefräste, gesägte, gehobelte, gebohrte und gedrehte Oberflächen Mehr |
