NA 022
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Norm
[ZURÜCKGEZOGEN]
DIN EN 60749-4
DIN EN 60749-4
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 4: Feuchte Wärme, konstant, Prüfung mit hochbeschleunigter Wirkung (HAST) (IEC 60749-4:2002); Deutsche Fassung EN 60749-4:2002
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002); German version EN 60749-4:2002
Änderungsvermerk
- vollständige Neufassung der in DIN EN 60749, Kapitel 3, Abschnitt 4C, enthaltenen Prüfung, sodass dieses Prüfverfahren in einer eigenständigen Norm veröffentlicht werden kann.
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
