NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [AKTUELL]

EIA JESD 51
Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages (Single Semiconductor Device)

Titel (englisch)

Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages (Single Semiconductor Device)

Ausgabe 1995-12
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
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