NA 022

DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Norm [AKTUELL]

DIN EN IEC 60352-3
Lötfreie elektrische Verbindungen - Teil 3: Lötfreie zugängliche Schneidklemmverbindungen - Allgemeine Anforderungen, Prüfverfahren und Anwendungshinweise (IEC 60352-3:2020); Deutsche Fassung EN IEC 60352-3:2020

Titel (englisch)

Solderless connections - Part 3: Accessible insulation displacement (ID) connections - General requirements, test methods and practical guidance (IEC 60352-3:2020); German version EN IEC 60352-3:2020

Einführungsbeitrag

Dieser Teil der IEC 60352 gilt für ID-Verbindungen, die für Messungen und Prüfungen in Übereinstimmung mit den Abschnitten 6 bis 8 zugänglich sind und die hergestellt sind mit: - geeigneten ID-Klemmen; - Drähten mit runden Massivleitern von 0,25 mm bis 3,6 mm Nenndurchmesser; - Drahtlitzenleiter mit einem Querschnitt von 0,05 mm2 bis 10 mm2; - für die Anwendung in Elektro- und Elektronikgeräten und Bauteilen. Neben den Prüfverfahren sind Angaben über Werkstoffe und Daten aus der industriellen Erfahrung enthalten, damit elektrisch stabile Verbindungen unter vorgeschriebenen Umweltbedingungen hergestellt werden können. Für zugängliche ID-Klemmen werden unterschiedliche Ausführungsformen und Werkstoffe verwendet. Deshalb werden für die Klemme nur grundlegende Angaben gemacht, während die Funktionsanforderungen an den Draht und an die fertige Verbindung in allen Einzelheiten festgelegt sind. Der Zweck des vorliegenden Dokuments besteht darin: - die Eignung von lötfreien zugänglichen ID-Verbindungen unter festgelegten mechanischen, elektrischen und klimatischen Bedingungen zu bestimmen; - vergleichbare Prüfergebnisse zu erzielen, wenn ID-Verbindungen mit Werkzeugen hergestellt werden, die unterschiedlicher Ausführung oder Herstellung sind.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60352-3:1995-05 und DIN EN 60352-3 Berichtigung 1:2018-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Unterabschnitt 7.2.2: Reduzierung des Grenzwerts für die Dauer von Kontaktstörungen auf 1 µs; b) Unterabschnitt 7.2.3: Reduzierung des Grenzwerts für die Dauer von Kontaktstörungen auf 1 µs; c) Übertragung der Abschnitte 9 bis 13 in Anhang A (informativ); d) die Bilder wurden der Eindeutigkeit halber überarbeitet.

Dokument: zitiert andere Dokumente

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 651 - Steckverbinder  

Ausgabe 2021-09
Originalsprache Deutsch
Preis ab 146,40 €
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