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DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE

Einführungsbeitrag

Die Technische Spezifikation IEC 61000-1-2 behandelt die Thematik der "Funktionalen Sicherheit" von sicherheitsbezogenen Systemen einschließlich der in solchen Systemen eingesetzten Geräte im Hinblick auf eine mögliche Beeinflussung solcher Systeme und Geräte durch elektromagnetische Phänomene. Denn wo immer ein elektrisches oder elektronisches Gerät betrieben wird, muss die grundsätzliche Situation in Betracht gezogen werden, dass dieses Gerät elektromagnetischen Störungen ausgesetzt sein kann und folglich in unzulässiger Weise beeinflusst werden kann. Eine solch mögliche, unzulässige Beeinflussung von "normalen" Geräten, das heißt solchen, die keine Sicherheitsfunktionen ausüben, wird über standardisierte EMV-Störfestigkeitstests (beispielsweise der Reihe IEC 61000-4) behandelt. Das erlaubte Verhalten der Geräte während der Beaufschlagung wird über verschiedene Bewertungskriterien beschrieben, und eine angemessene Störfestigkeit stellt letztlich ein Qualitätsmerkmal des Gerätes dar.

Dieser Ansatz lässt sich nicht mehr weiterverfolgen im Falle von Geräten mit Sicherheitsfunktionen, weil eine mögliche Beeinflussung hier nicht so sehr ein Qualitätsmerkmal betrifft, sondern vielmehr dazu führen kann, dass der Betreiber des Gerätes oder sonstige Personen einem höheren Risiko ausgesetzt sind. Es sind beispielsweise Bewertungskriterien gefordert, die im Falle von Beeinflussungen eher den Aspekt des "sicheren Zustandes" betonen als den der Verfügbarkeit. Neben der Einführung und Beschreibung des Bewertungskriteriums FS (Funktionale Sicherheit) werden in der Technischen Spezifikation noch folgende Aspekte im Detail behandelt:

• Die Einbindung von Tätigkeiten zur Sicherstellung der EMV in den Sicherheitslebenszyklus eines sicherheitsbezogenen Systems
• EMV-spezifische Aktivitäten, die im Rahmen des Erreichens der Funktionalen Sicherheit notwendig sind
• Beschreibung und Bewertung der elektromagnetischen Umgebung, in der sicherheitsbezogene Systeme arbeiten sollen
• EMV-Aspekte im Design- und Integrationsprozess von sicherheitsbezogenen Systemen und in ihnen verwendeten Geräten
• Ableitung und Festlegung geeigneter Testmethoden und Testparameter sowie die Berücksichtigung des Einflusses des Sicherheitsintegritäts-Levels (SIL) auf jene
• Verifizierung und Validierung der Störfestigkeit gegenüber elektromagnetischen Störgrößen.

Ergänzt wird der Hauptteil der Technischen Spezifikation durch mehrere informative Anhänge, in denen eine Reihe weiterer Aspekte behandelt wird: Beispiele für Pegel von elektromagnetischen Störungen; detaillierte Maßnahmen und Techniken bei der Planung, Design und Realisierung von sicherheitsgerichteten Systemen oder Geräten mit Sicherheitsfunktionen; Betrachtungen zu Spezifikationen von Produkten, Geräten und Systemen; Erörterungen über einen Zusammenhang zwischen elektromagnetischen Phänomenen und dem Sicherheitsintegritäts-Level (SIL) sowie EMV-Planung von sicherheitsbezogenen Systemen.

Die zweite Ausgabe der Technischen Spezifikation IEC/TS 61000-1-2 stellt eine technische Erweiterung und Überarbeitung der im Jahr 2001 veröffentlichten ersten Ausgabe dar, mit dem wesentlichen Ziel, die EMV-Betrachtungen an die Methodik der Norm IEC 61508 anzupassen. Zum damaligen Zeitpunkt konnten die Ansätze der Basispublikation zum Thema Funktionale Sicherheit, das heißt diejenigen der Reihe IEC 61508, aufgrund der terminlichen Situation noch nicht berücksichtigt werden. Dies wurde nunmehr mit der zweiten Ausgabe von IEC/TS 61000-1-2 erreicht.

Für die Technische Spezifikation IEC/TS 61000-1-2 ist auf nationaler Ebene der Arbeitskreis DKE/AK 767.0.4 zuständig.