Technical rule [CURRENT]

DIN SPEC 52407
Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM)

Title (German)

Nanotechnologien - Methoden zur Präparation und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie im Transmissionsmodus (TSEM)


Technical Report

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Responsible national committee

NA 062-08-17-02 UA - Test methods 

Edition 2015-03
Original language German
Price from 63.00 €
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Michael Schmitt

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