DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
DIN EN 60749-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002); German version EN 60749-10:2002
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanisches Schocken (IEC 60749-10:2002); Deutsche Fassung EN 60749-10:2002
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Responsible national committee
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente