NA 022
DKE German Commission for Electrical, Electronic & Information Technologies of DIN and VDE
Draft standard
[Withdrawn]
DIN EN IEC 60749-30
DIN EN IEC 60749-30
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 47/2562/CDV:2019); German version prEN IEC 60749-30:2019
Title (German)
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen (IEC 47/2562/CDV:2019); Deutsche Fassung prEN IEC 60749-30:2019