Projekt
(Future IEC 60747-14-5): Discrete semiconductor devices - Part 14-5: Semiconductor sensors - PN-junction semiconductor temperature sensor
Beginn
2005-12-02
Geplante Dokumentnummer
IEC 47E/293/NP
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/UK 631.1 - Einzel-Halbleiterbauelemente
