Artificial Intelligence, machine learning algorithms and workflows in particle characterization

2026-05-10

ISO/AWI TR 26545

NA 005-11-42 AA - Partikelmesstechnik (SpA zu ISO/TC 24/SC 4)

ISO/TC 24/SC 4/WG 8 - Bildanalyseverfahren

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M. Sc.

Maximilian Heller

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

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