Charakterisierungsmethoden für im Quantencomputing und in der Quantensensorik verwendeten Ionenfallen
Kurzreferat
Dieses Dokument legt den Versuchsaufbau, das Messverfahren und die Analyse der Messdaten zur Bewertung der wichtigsten Parameter von Ionenfallen fest. Darüber hinaus werden Mindestanforderungen an die Berichterstattung über den Versuchsaufbau für die Auswertung der wichtigsten Parameter festgelegt. Daher ist dieses Dokument in zwei Hauptabschnitte unterteilt: i. Ionenfallenspezifikationen und ii. Gemessene Eigenschaften. Die beiden Hauptabschnitte enthalten mehrere Unterabschnitte mit einer detaillierten Beschreibung der getesteten Ionenfalle (Abschnitt i.), z. B. für die Herstellung verwendete Materialien, Geometrie und die wichtigsten Leistungsindikatoren (Abschnitt ii.), z. B. Heizrate, Fallenpotenzial. Außerdem wird ein Anhang mit einer kurzen Beschreibung der Grundsätze der verwendeten Methoden und einer detaillierten Beschreibung des verwendeten Aufbaus hinzugefügt. Der Anhang wird auch eine Anleitung enthalten, wie die Messungen am besten mit ähnlichen Messungen verglichen werden können. Dieses Dokument wird im Arbeitsausschuss NA 043-02-05 AA "Quantentechnologien" im DIN-Normenausschuss Informationstechnik und Anwendungen (NIA) erarbeitet.
Beginn
2025-07-24
WI
JT022012
Geplante Dokumentnummer
DIN EN XXX-JT022012
Projektnummer
04301228
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 043-02-05 AA - Quantentechnologien
