• Illustration einer Frau, die einen Schlüssel in ein digitales Schloss in einen Laptop steckt

    Digitale Souveränität braucht Normung Jetzt Spielregeln von morgen mitgestalten

    Mehr erfahren
  • Haie und viele Fischer im Meer

    Wie erlangen wir digitale Souveränität? Antworten im neuen DIN A4-Magazin

    Jetzt Ausgabe lesen
 
Projekt

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 11: Prüfverfahren für lineare thermische Ausdehnungskoeffizienten für freistehende Werkstoffe der Mikrosystemtechnik

Beginn

2009-07-03

Geplante Dokumentnummer

IEC 47F/154/FDIS

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

IEC/SC 47F - Mikrosystemtechnik  

Ihr Kontakt

Denis Kasalo

Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

Tel.: +49 69 6308-149

Zum Kontaktformular