Norm
[AKTUELL]
DIN EN 62373
DIN EN 62373
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006
Titel (englisch)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
