Norm
[AKTUELL]
DIN EN 60749-33
DIN EN 60749-33
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-33:2004); Deutsche Fassung EN 60749-33:2004
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004); German version EN 60749-33:2004
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Zuständiges nationales Arbeitsgremium
DKE/K 631 - Halbleiterbauelemente
