Einführungsbeitrag

Dieses Dokument legt die Konstruktion und messtechnischen Merkmale von Messgeräten zum konfokalen Mikroskopieren zur flächenhaften Messung von Oberflächentopographien fest. Da Oberflächenprofile aus Daten der flächenhaften Oberflächentopographie extrahierbar sind, können die Methoden, die in diesem Dokument beschrieben werden, auch auf Profilmessungen angewendet werden. Das zuständige nationale Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN ISO 25178-607:2019-12 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Streichung der Begriffe, die jetzt in ISO 25178-600 festgelegt sind; Überarbeitung aller Begriffe zur Erläuterung und Konsistenz mit anderen ISO-Normen; b) Hinzufügung des Abschnitts 4 über Geräteanforderungen, in dem normative Merkmale und Eigenschaften zusammengefasst sind und ein informatives Konzeptdiagramms des Informationsflusses enthalten ist; c) Hinzufügung des Abschnitts 5 über messtechnische Merkmale; d) Hinzufügung des Abschnitts 6 über Konstruktionsmerkmale, in dem die für dieses Dokument relevanten Arten von Messgeräten erläutert werden; e) Überarbeitung von Anhang A, in dem die Prinzipien der in diesem Dokument behandelten Geräte beschrieben werden; f) Hinzufügung von Anhang B über messtechnische Merkmale und Einflussgrößen, Ersetzen der normativen Tabelle der Einflussgrößen durch eine informative Beschreibung der allgemeinen Fehlerquellen und deren Zusammenhang mit den messtechnischen Merkmalen in ISO 25178-600.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung