ISO 16700
Mikrobereichsanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Leiffäden für die Kalibrierung der Bildvergrößerung

Titel (englisch)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification

NA 062-08-18 AA - Elektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

ISO/TC 202/SC 4 - Rasterelektronenmikroskopie

Ausgabe 2016-08

Originalsprache Englisch

Preis ab 114,50 €

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