DIN EN ISO 18452
Hochleistungskeramik - Bestimmung der Dicke keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer (ISO 18452:2005); Deutsche Fassung EN ISO 18452:2016
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer (ISO 18452:2005); German version EN ISO 18452:2016
Einführungsbeitrag
Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke feinkeramischer Schichten und keramischer Schichten mit einem Kontaktprofilometer fest. Das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10 000 nm geeignet.
Der Text von ISO 18452:2005 wurde vom Technischen Komitee ISO/TC 206 "Fine ceramics" der Internationalen Organisation für Normung (ISO) erarbeitet und als EN ISO 18452:2016 durch das Technische Komitee CEN/TC 184 "Hochleistungskeramik" übernommen, dessen Sekretariat von DIN (Deutschland) gehalten wird.
Zu DIN EN ISO 18452 gibt es kein Arbeitsgremium bei DIN, da seitens der deutschen Fachöffentlichkeit kein Interesse an diesem Normungsthema bekundet wurde.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 1071-1:2003-06 wurde folgende Änderungen vorgenommen: a) Präzisierung des Anwendungsbereiches, d. h. das Verfahren ist für Schichtdicken im Bereich von 10 nm bis 10000 nm geeignet; b) Abschnitt 3 "Begriffe" eingefügt; c) Bild 1 überarbeitet; d) Unterabschnitt 7.3 "Anzahl der Proben" eingefügt; e) Übernahme der ISO 18452:2005.
Dokument: zitiert andere Dokumente
Zuständiges nationales Arbeitsgremium
NA 062-01-64 AA - Kohlenstoffschichten und keramische Hartstoffschichten
Zuständiges europäisches Arbeitsgremium
CEN/TC 184 - Hochleistungskeramik
