• Digitale Darstellung eines Hauses

    Digitalisierung im Bauwesen Dialog-Veranstaltung am 17. und 18. November 2026

    Jetzt anmelden
  • Vier Ruderer auf türkisblauem Wasser

    Mittelstandskonferenz 2026 Mitspielen. Mitgestalten. Wettbewerbsfähig bleiben.

    Jetzt anmelden
  • Illustration einer Person mit Clipboard und Stift in der Hand, dahinter Wappen mit der Aufschrift

    Cybersicherheit wird zur Pflicht Jetzt kommt es auf die Umsetzung an

    Mehr erfahren
 
Norm [AKTUELL]

DIN 50455-2
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken

Titel (englisch)

Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists

Dokument: zitiert andere Dokumente

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-10-103 AA - Prüfung von Prozessmaterialien für die Halbleitertechnologie  

Ausgabe 1999-11
Originalsprache Deutsch
Preis ab 36,70 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Katharina Lachmann

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Tel.: +49 30 2601-2450
Fax: +49 30 2601-42450

Zum Kontaktformular